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MPN: NT-MDT Spectrometer
Sistema de Microscópio Confocal de Força Atômica NT-MDT NTEGRA Spectra SNOM STM AFM
À venda está o NTEGRA Spectra original da NT-MDT - Integração de SPM e sistema de microscopia confocal. Fabricado pela Molecular Devices and Tools for Nanotechnology por volta do ano 2010. Este sistema foi desativado anteriormente por uma universidade e eles retiraram o disco rígido com o software. Como tal, este sistema não foi totalmente testado e só podemos falar sobre o hardware. Fomos oferecidos uma cópia do software pelo OEM por cerca de $9,000. Não garantimos que o software seja a única coisa necessária para tornar este sistema funcional, não somos especialistas neste sistema. Veja as fotos. Este sistema está em condição \"usado\" e, como tal, pode ter pequenos arranhões, amassados e outras imperfeições. A unidade base liga quando conectada aos controladores.
Inclui o seguinte na compra:
-Unidade base, inclui CCD e óptica de sobrecarga, bem como módulo de IO de radiação a laser
-Scanner
-Cabeça de medição óptica 830 com suporte para sonda AFM
-Cabeça AFM (cabeça de medição universal)
-Cabeça STM
-2x Controladores NTEGRA
-NS Interface USB
-Controlador de PC com placas PCI (faltando HDD, tampa superior e possivelmente mais)
-STELLAR-PRO-L 514nm Modu-Laser com suporte OTS e cooler de ventilador
-MS 5004i NTEGRA Espectrômetro unidade espectral c/ Andor DV401-BV CCD
- Muitos cabos interconectores (principalmente DB-9), acessórios, conexões, suportes etc
Devido ao grande tamanho e peso deste sistema, ele será enviado por frete. O envio é gratuito de doca a doca em qualquer lugar do continente.
Do fabricante:
\"\"ESPECIFICAÇÕES\"\"
Microscopia Confocal de Raman/Fluorescência
AFM/STM: Integração com espectroscopia
Espectroscopia
Escaneamento de Microscopia Óptica de Campo Próximo (SNOM)
Otimizado para Dispersão Raman Aprimorada por Dedo (TERS) e outras técnicas ópticas relacionadas ao dedo
(S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.) Microscopia Confocal de Raman/Fluorescência
A imagem Confocal Raman/Fluorescência/Rayleigh é executada simultaneamente com AFM (durante uma varredura de amostra)
Resolução espacial limitada por difração: 200 nm em XY, 500 nm em Z (com objetivo de imersão)
Verdadeira confocalidade; pressione o botão do software para controlar o orifício confocal motorizado para sinal e confocalidade ótimos
Expansor/collimador de feixe variável motorizado: ajusta o diâmetro e a colimação do feixe de laser individualmente para cada laser e cada objetivo utilizado
Imagens confocais 3D completas (XYZ) com poderosa análise de imagem
Imagens hiperespectrais (registro do espectro Raman completo em cada ponto de uma varredura confocal 1D, 2D ou 3D) com análise de software adicional
Litografia óptica (vetor, raster) AFM/STM: Integração com espectroscopia
Configurações ópticas de AFM em pé e invertidas (otimizadas para amostras opacas e transparentes, respectivamente);
opção de iluminação lateral
Óptica de resolução máxima possível (apertura numérica) é utilizada simultaneamente com AFM: 0,7 NA para Vertical, 1,3-1,4 NA para Invertido
Imagens AFM/STM e Raman/Fluorescência confocal são obtidas simultaneamente (durante uma varredura)
Todos os modos de imagem SPM padrão são suportados (30 modos) combinados com Raman/Fluorescência confocal.
AFM/STM de baixo ruído (resolução atômica)
As vibrações e os deslocamentos térmicos originados do corpo do microscópio óptico são minimizados devido ao design especial das cabeças ópticas de AFM.
Recurso de faixa de foco: a amostra permanece sempre em foco devido ao feedback Z do AFM; imagens confocais de alta qualidade de amostras muito ásperas ou inclinadas podem ser obtidas
Espectroscopia*
Espectrômetro de comprimento de 520 mm com eficiência extremamente alta e 4 grades motorizadas
Faixas espectrais visíveis, UV e IR disponíveis
Rede de Echelle com ultra alta dispersão; resolução espectral: 0,007 nm (< 0,1 1/cm)**
Até 3 detectores diferentes podem ser instalados
Câmera CCD resfriada (até -100 °C). A câmera EMCCD é opcional para imagens ultrarrápidas.
Multiplicador de fótons (PMT) ou fotodiodo de avalanche em modo de contagem de fótons
Multiplicador de fótons para imagem a laser confocal rápida (Rayleigh)
Óptica de polarização motorizada flexível nos canais de excitação e detecção, medições Raman cruzadas.
Comutação totalmente automatizada entre diferentes lasers com alguns cliques do mouse Microscopia Óptica de Campo Próximo (SNOM)*
Duas técnicas principais de SNOM suportadas: (i) baseadas em sondas de fibra de quartzo, (ii) baseadas em sondas de cantilever de silício
Todos os modos suportados: Transmissão, Coleta, Reflexão
Todos os sinais SNOM detectados: intensidade do laser, intensidade da fluorescência, espectroscopia
litografia SNOM (vetor, raster)
Otimizado para Dispersão Raman Aprimorada por Dedo (TERS) e outras técnicas ópticas relacionadas ao dedo (S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)
Todas as geometrias TERS existentes estão disponíveis: iluminação / coleta de baixo, de cima ou de lado
Diferentes técnicas de SPM e sondas TERS podem ser usadas: STM, cantilever de AFM, garfo de quartzo em modos de toque e força de cisalhamento
Escaneamento duplo (para Mapeamento de Pontos Quentes em TERS): escaneamento por amostra E escaneamento por ponta / por ponto de laser
Óptica de polarização motorizada para produzir polarização ideal para medições TERS AFM-Raman pode operar no ar, em atmosfera controlada ou em líquido, todos com temperatura variável (para configuração invertida)
Alguns recursos listados são opcionais e não estão incluídos na configuração básica do sistema.
Política de devolução
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