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O Sistema de Perfilometria Óptica Bruker NPFLEX 3D é um sistema de medição de superfície sem contato projetado para análise e perfilometria de superfície 3D de alta precisão. Ele é utilizado para medir rugosidade, textura, espessura e topografia de uma ampla gama de materiais e componentes. O sistema fornece medições rápidas e precisas sem danificar a amostra, tornando-o ideal para aplicações em pesquisa, semicondutores, indústria e controle de qualidade.
Destaques Principais:
Medida Sem Contato: Analisa superfícies sem tocar fisicamente ou danificar amostras.
Perfilagem 3D de Alta Resolução: Captura dados detalhados de topografia e textura da superfície.
Análise de Superfície Precisa: Mede a rugosidade, espessura e outros parâmetros críticos da superfície.
Aplicações Versáteis: Adequado para uso em semicondutores, indústrias e laboratórios de pesquisa.
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